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使用 FACT 光谱谱图解析软件对复杂样品进行实时光谱校正

提供者:上海斯迈欧分析儀器有限公司   发布时间:2020/6/9  阅读次数:26次   進入該公司展台

 理想情況下,ICP-OES儀器应该具有无限的光谱分辨率,无论什么样的样品,各个元素的灵敏发射谱线都不受光谱干扰。对于复杂的样品基质来说,这样的情况常常不大可能,但是,安捷伦快速自动曲线拟合技術 (FACT) 却将这理想变成了现实。它采用了一种高度复杂却又易于使用的光谱建模技術,对 ICP-OES 分析棘手样品时经常遇到的复杂分析光谱进行准确建模。

 

FACT 的优势在于它能够准确校正分析物波长附近的强重叠峰。在采集分析数据之前或之后都可以创建 FACT 模型,过程非常简单,您可信心十足地应对任何挑战性样使用 FACT 光谱谱图解析软件对复杂样品进行实时光谱校正 Agilent 5800 和Agilent 5900 ICP-OES 2 品。有了 FACT,无需对样品做更多的处理,无需重新分析样品,也无需因在含有大量错误数据的分析结果中寻找正确数据而感到心烦意乱,可大大节省您的宝贵时间。与元素间干扰校正 (IEC) 相比,FACT 的使用更简单,功能也更强大。它还可准确校正背景,尤其适用于处理极为复杂的背景结构(传统的背景校正技術对此往往束手无策)。

 

FACT 的工作原理: FACT 通过使用高级光谱建模技術提供实时光谱校正,以数学方式从原始光谱中解析(即分离)分析物信号,并通过分别测定预期组分以及各自的响应来建模。通常需测定如下溶液: 1. 空白溶液 2. 纯分析物溶液 3. 纯干扰物溶液

 

对每个光谱组分模型进行分析并拟合为高斯曲线,以获得该谱峰的数学描述。检验剩余结构的残差,如果残差足够大,将其拟合至其他高斯分布中。模型可表示为高斯峰与相对小的残差之和。通过在波长范围内监测 6 根等离子体发射谱线,可计算出在模型创建与分析应用之间可能出现的小的波长偏移或漂移。这样可以长期保持模型的波长准确性。与 IEC 不同,采用 FACT 无需知道各溶液中分析物和干扰物的浓度。溶液浓度只要足够高,就能轻松将其从背景中区分开(通常是检测限的 50 倍)。图 1 的例子示出了针对主要的镉 214.439 nm 发射谱线构建的模型,该谱线受不太灵敏的 214.445 nm 铁发射谱线的部分干扰。在分析土壤样品时经常会出现这样的情况,由于存在高浓度的铁,所以很难准确测定痕量的镉。

 

总结: FACT 通过使用高级光谱建模技術提供实时光谱校正,以数学方式从原始光谱中分离分析物信号。与元素间校正相比, FACT 的使用更简单,功能更强大,它可准确校正背景,帮助您信心十足地分析光谱复杂的样品。

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